半導(dǎo)體加速度離心實(shí)驗(yàn)機(jī)簡述：

本設(shè)備用于確定電子元器件、小型設(shè)備和其他電工電子產(chǎn)品經(jīng)受動態(tài)過載環(huán)境所產(chǎn)生的力（重力除外）作用下，結(jié)構(gòu)的適應(yīng)性和性能是否良好，以及評定一些元器件的結(jié)構(gòu)完好性，并驗(yàn)證這些元件在預(yù)期的使用環(huán)境下經(jīng)受復(fù)合加速度應(yīng)力是否正常以及結(jié)構(gòu)的承受能力。

半導(dǎo)體加速度離心實(shí)驗(yàn)機(jī)特點(diǎn):

◆ 計(jì)算機(jī)實(shí)時控制，自動生成實(shí)驗(yàn)報(bào)告；

◆ 實(shí)時顯示試驗(yàn)曲線及容差、試驗(yàn)時間；

◆ 可實(shí)現(xiàn)多階加速度試驗(yàn)；

◆ 可實(shí)現(xiàn)開路、超限、超速保護(hù)；

◆ 可實(shí)現(xiàn)自動、手動控制；

◆ 集流滑環(huán)電流通道數(shù)及大小可滿足任一實(shí)驗(yàn)要求。

離心試驗(yàn)機(jī)規(guī)格：